Ubicació i contacte

El tècnic responsable és en Joan Cifre (ext.173485), l'equip es troba situat al "Laboratori de microscòpia D0" a la planta baixa del edifici dels SCT.

Tècnica

El principi de la microscòpia de forces atòmiques és la detecció de les forces d’interacció atòmica o molecular entre una punta de mida nanomètrica i la superfície de la mostra. Aquesta tècnica permet obtenir imatges superficials de les mostres amb resolució nanomètrica. Depenent del senyal analitzat s’obtenen mapes de morfologia i rugositat superficial (mode AFM), es poden visualitzar zones de diferent composició (anàlisi de fase i d’amplitud), dominis magnètics (mode MFM) i mapes de fricció (mode força lateral) entre altres. La principal diferència respecte altres microscòpies d’alta resolució és que és una tècnica no destructiva que permet treballar en qualsevol ambient: aire, líquid o buit.

Equipament

• Microscopi VEECO model multimode.
• Escàner de 12 μm x 12 μm.
• Controladora Nanoscope IV.
• Accessoris per a mesures en mode contacte, en mode tapping, mesures en ambient líquid i mesures magnètiques.
• Software de tractament d’imatges i metrologia.

Aplicacions:

• Obtenció d’imatges topogràfiques tridimensionals d’escala nanomètrica.
• Metrologia: mesures tridimensionals de detalls superficials.
• Estudi nanomètric de mostres biològiques en el seu medi natural.
• Observació de l’evolució superficial en temps real.
• Obtenció de mapes de dominis magnètics.
• Obtenció de mapes superficials de diverses propietats físiques.
• Obtenció de corbes de força.