Àrea de difracció de raigs X

Ubicació i contacte

El tècnic responsable és Joan Cifre (ext.3489), els equips es troben al "Laboratori de propietats físiques C0" a la planta baixa dels SCT.

Tècnica

La difracció de raigs X es basa en el fet que la disposició ordenada dels àtoms en els cristalls fa que aquests actuï’n com a xarxes de difracció per a la radiació de raigs X, de manera que dels feixos difractats se’n pot extreure informació de l’estructura cristal·lina del sòlid.

Equipament 

  • Difractòmetre de pols BRUKER model D8 Advance
    • Geometria Bragg-Brentano i configuració θ-θ.
    • Geometria de reflexió i transmissió.
    • Tub de raigs X amb ànode de Cu.
    • Òptica divergent amb encletxes d’obertura variable
    • Òptica paral·lela amb mirall Göbel
    • Portamostres rotatòri.
    • Plataforma X,Y,Z per a mostres grosses i irregulars
    • Accessori de microdifracció
    • Cambra de temperatura MTC-LOWTEMP (-180 ºC a +400ºC)
    • Cambra de temperatura MTC-FURNACE ( +25ºC a +1100ºC)
    • Sistema de buit.
    • DIFFRAC EVA: programa d’anàlisi dels espectres

 

  RX 1 NOU BRUKERRX2-Nou Bruker

 

 

  • Difractòmetre de pols SIEMENS model D5000.
    • Geometria Bragg-Brentano i configuració θ-2θ.
    • Cambra de pols estàndard.
    • Tub de raigs X amb ànode de Cu.

RX-1 Camara 2 

 

  • Generador de raigs X PHILIPS model PW 1729.
    • Càmera Laue i Debye-Sherrer. 

Laue 1Laue Detall

Aplicacions

Anàlisi quantitatiu de fases cristal·lines.

  • Identificació de components en sòlids inorgànics i orgànics.
  • Anàlisi quantitaiu de fases cristal·lines.
  • Anàlisi d’isomorfisme i polimorfisme, transicions de fase.
  • Caracterització de transicions de fase i de reaccions en estat sòlid.
  • Estudis estructurals en funció de la temperatura: evolució de la cristal·linitat, estudi dels processos de descomposició tèrmica, canvis de fase, etc.